本書詳盡地分析了宇航環(huán)境中的輻射效應(yīng)以及輻射導(dǎo)致的軟錯誤機理，為理解宇航用FPGA和并行架構(gòu)的軟錯誤特性提供了理論基礎(chǔ)。同時，本書也對現(xiàn)有的容錯技術(shù)進行了系統(tǒng)的歸納和總結(jié)，為宇航用FPGA和并行架構(gòu)的容錯設(shè)計提供了豐富的實踐經(jīng)驗。