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公差配合與測量
定 價:49.8 元
作者:張樂,李興瑞,賈榮糧主編
出版時間:2025/7/1
ISBN:9787313329318
出 版 社:上海交通大學(xué)出版社
中圖法分類:
TG801
頁碼:91頁
紙張:
版次:1
開本:26cm
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內(nèi)容簡介
本書包含八個項目,內(nèi)容包括公差測量技術(shù)概述、極限與配合、測量技術(shù)基礎(chǔ)、光滑極限量規(guī)的使用、尺寸的測量、幾何公差及其檢測、表面粗糙度的測量和公差配合與測量技術(shù)的生產(chǎn)實際應(yīng)用。
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