本書全面介紹了芯片測(cè)試與安全的基礎(chǔ)理論與核心技術(shù)，包括故障模型、測(cè)試矢量生成、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、掃描設(shè)計(jì)和內(nèi)建自測(cè)試，重點(diǎn)分析故障仿真與診斷方法。本書討論了存儲(chǔ)器測(cè)試、時(shí)延測(cè)試等關(guān)鍵技術(shù)，并結(jié)合全球化供應(yīng)鏈背景，探討芯片經(jīng)濟(jì)學(xué)、安全問題及硬件IP保護(hù)。本書詳細(xì)解析了物理攻擊與防篡改技術(shù)，介紹了側(cè)信道攻擊類型及防御策略，深入講解了物理不可克隆函數(shù)的原理與攻防技術(shù)，以及邏輯鎖定等安全增強(qiáng)技術(shù)的應(yīng)用。本書還探索了結(jié)合人工智能提升芯片測(cè)試效率與安全性的路徑。章后配有習(xí)題，以指導(dǎo)讀者深入學(xué)習(xí)。第10章配有電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化測(cè)試與安全實(shí)驗(yàn)，為讀者提供動(dòng)手實(shí)踐機(jī)會(huì)。