本書介紹了為配合光學非球面的加工，對加工過程中的面形進行測量的基礎(chǔ)理論與工藝，包括：直角坐標和擺臂式極坐標測量，基于非零位干涉法的子孔徑拼接測量，光學非球面鏡相位恢復車位測量等三種方法。最后還描述了我們在光學鏡面制造中亞表面質(zhì)量檢測與保障方面的研究成果。